用于材料研究的蔡司Axio Imager 2

用于自動材料分析的開放式顯微鏡系統

在您從事優良的材料研究時，Axio Imager 2可幫助簡化光學顯微鏡工作流。蔡司Axio Imager 2能夠對材料生成準確且可重復的結果。選擇適合您應用的系統，使用顆粒分析等專用共聚焦或關聯顯微鏡解決方案擴展您的設備。

☆可重復的結果

☆模塊化設計

☆高光學性能

可重復的結果

享受無振動的工作環境

如要獲得準確的結果，穩定性不可少。Axio Imager 2具有穩定的成像條件，而在使用高放大倍率或進行對時間有高要求的研究時，該特性更為顯著。Axio Imager 2的電動化設計可以獲得快速且可重復的結果，同時始終在恒定條件下工作。

模塊化設計

獲得更大的靈活性

無論是學術還是工業研究，材料顯微鏡都面臨著各種各樣的挑戰。借助Axio Imager 2，您將能夠直面并戰勝這些挑戰。您可以連接特定于應用的組件，進行顆粒分析等工作，也可以檢測非金屬夾雜物（NMI）、液晶或基于半導體的MEM。借助專用共聚焦或關聯顯微鏡解決方案，您的設備功能將得到擴展。

高光學性能

實現出色襯度和分辨率

●使用不同觀察方式觀測金屬、復合材料或液晶等一系列材料。

●使用反射光，在明場、暗場、微分干涉相差（DIC）、圓微分干涉相差（C-DIC）、偏光或熒光下觀察樣品。

●使用透射光，在明場、暗場、微分干涉相差（DIC）、偏光或圓偏光下檢測樣品。觀察方式管理器能確保照明設置可復制。

觀察方式選擇

球墨鑄鐵，拋光樣品，使用不同觀察方式在相同位置成像（觀察視野265 µm）。圖像由德國凱瑟爾斯多夫的H.-L. Steyer博士提供。

明場

暗場

偏光（正交偏光）

使用附加了Lambda補償器的偏光

圓微分干涉相差（C-DIC）

人體工程學設計

表面應用無極限

Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m可在觸摸屏上顯示關鍵操作功能，手指輕松點擊便可控制所有電動組件。其他控制按鈕依照人體工程學設計排列在對焦驅動裝置周邊，帶有觸覺反饋的表面使其易于區分。Axio Imager.D2m有5個預編程按鈕，Axio Imager.Z2m則有10個用戶自定義按鈕。Axio Imager.A2m已編碼。

熱顯微技術

靈活記錄溫度變化

您是否想研究溫度對金屬、晶體、陶瓷或塑料的影響？

借助ZEN core和Linkam加熱臺，您可以定制加熱或冷卻實驗。在時間序列中溫度模式會得到記錄，實驗結果將包含每幅時間序列圖像中的溫度和真空數據。您可以在質量控制等應用領域中觀察樣品在加熱和冷卻過程中的變化。